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自學(xué)考試《實(shí)驗(yàn)室管理學(xué)》專項(xiàng)復(fù)習(xí)題：單選101-200
自學(xué)考試《實(shí)驗(yàn)室管理學(xué)》專項(xiàng)復(fù)習(xí)題：單選101-200
101. 13S指的是表示存在隨機(jī)誤差(B) (中)
A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過 -2s
B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過+2s 或- 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過+1s或- 1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
102.R4S指的是(A) (易)
A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過- 2s，表示存在隨 機(jī)誤差
B、一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過X±3S，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過+2s或 - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過+1s或- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過+1s或-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
103.22S指的是(C)(難)
A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過- 2s，表示存在隨機(jī)誤差
B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過+2s或 - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過十1s或- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過X+1s或X -1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E、 10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
104.41S指的是(D) (中)
A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過十2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過- 2s，表示存在隨機(jī)誤差
B、一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過X±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過+2s 或- 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過+1s或- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過+1s或一1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
105.10X指的是(E) (難)
A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過十2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過 - 2s，表示存在隨機(jī)誤差
B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過+2s或 - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過十1s或- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過+1s或-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E、 10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
106.Levey--Jennings質(zhì)控圖中中心線為(A) (難)
A、 線
B、 ±s線
C、 ±2s線
D、 ±3s線
E、 ±4s線
107.LeveyˉJennings質(zhì)控圖中警告線為(C) (中)
A、 線
B、 ±s線
C、 ±2s線
D、 ±3s線
E、 ±4s線
108.LeveyˉJennings質(zhì)控圖中常用的失控線為(D) (中)
A、 線
B、 ±s線
C、 ±2s線
D、 ±3s線
E、 ±4s線
109.41S規(guī)則的控制界限是(B) (難)
A、線
B、±s線
C、±2s線
D、±3s線 `
E、±4s線
110.R4S規(guī)則的控制界限是(C) (易)
A、 線
B、 ±s線
C、 ±2s線
D、 ±3s線
E、 ±4s線
111.(2of3)2S規(guī)則的控制界限為(C) (難)
A、 線
B、 ±s線
C、 ±2s線
D、 ±3s線
E、 ±4s線
112.在臨床檢驗(yàn)質(zhì)量控制中，其敏感度的指標(biāo)是(B) (中)
A、 假失控概率
B、 誤差檢出概率
C、 在控預(yù)測值
D、 失控預(yù)測值
E、 失控效率
113.在臨床檢驗(yàn)質(zhì)量控制中，其特異度的指標(biāo)是(A) (難)
A、 假失控概率
B、 誤差檢出概率
C、 在控預(yù)測值
D、 失控預(yù)測值
E、 失控效率
114.誤差檢出概率指的是(B) (中)
A、 假失控批數(shù)/(假失控批數(shù)十真在控批數(shù))×100%
B、 真失控批數(shù)/真失控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
C、 真失控批數(shù)/(真失控批數(shù)十假失控批數(shù))x 100%
D、 假在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
E、 真在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
115.假失控概率指的是(A) (難)
A、 假失控批數(shù)/(假失控批數(shù)十真在控批數(shù))×100%
B、 真失控批數(shù)/真失控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
C、 真失控批數(shù)/(真失控批數(shù)十假失控批數(shù))×100%
D、 假在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
E、 真在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%
責(zé)編：zhangjing0102
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