隨著科學技術(shù)的發(fā)展、高可靠長壽命的產(chǎn)品愈來愈多，許多電子元器件在正常的工作條件下其壽命可達數(shù)百萬小時以上。這種情況在工作條件下進行壽命試驗已變得不現(xiàn)實，因此，在不改變產(chǎn)品的失效機理的條件下，通過提高工作環(huán)境的應(yīng)力水平來加速產(chǎn)品的失效，盡快地暴露產(chǎn)品設(shè)計過程中的缺陷，發(fā)現(xiàn)故障模式，稱這種超過正常應(yīng)力水平下的壽命試驗為加速壽命試驗。

　　加速壽命試驗有如下三種常見的試驗類型。

　　（1）恒定應(yīng)力加速壽命試驗。在恒定應(yīng)力加速壽命試驗中，根據(jù)產(chǎn)品的失效機理選定一組逐漸升高的應(yīng)力水平，它們都高于正常應(yīng)力水平，在每個應(yīng)力水平上投入一定量的受試樣品進行壽命試驗，直到每個應(yīng)力水平均有一定數(shù)量的樣品出現(xiàn)失效為止。

　　（2）步進應(yīng)力加速壽命試驗。先選定一組高于正常應(yīng)力水平的加速應(yīng)力水平，將受試樣品在選定加速應(yīng)力水平下由低向高逐漸提高應(yīng)力水平，在每個水平上進行規(guī)定時間長度的壽命試驗。這里規(guī)定時間長度一般視試驗進行情況而定，一般原則是要在不同的加速應(yīng)力水平上有一定量的累積失效樣品。

　�。�3）序進應(yīng)力加速壽命試驗。序進應(yīng)力加速壽命試驗與步進應(yīng)力加速壽命試驗原理基本相同，只是應(yīng)力的改變是隨時間連續(xù)變化的而非跳躍式增加。