硬盤故障：壞區(qū)造成Fdisk不能通過檢測(cè)
壞區(qū)造成Fdisk不能通過檢測(cè)
問：我的硬盤上有壞區(qū)，最近想給硬盤重新分區(qū)。在使用Fdisk進(jìn)行分區(qū)時(shí)需要檢測(cè)硬盤，由于有壞區(qū)而造成檢測(cè)不能通過，導(dǎo)致分區(qū)不能正常進(jìn)行，請(qǐng)問應(yīng)如何解決？
答：這種故障會(huì)給用戶帶來很大的麻煩，雖是很小的壞區(qū)，也會(huì)使整塊硬盤無法使用。其實(shí)，解決起來也很簡(jiǎn)單，在使用Fdisk時(shí)加個(gè)參數(shù)即可，輸入“fdisk/actok”命令，按回車鍵進(jìn)入Fdisk再進(jìn)行分區(qū)，就可以順利通過硬盤檢測(cè)了。這是因?yàn)?actok是Fdisk命令的隱藏參數(shù)，它可以在給硬盤分區(qū)時(shí)不檢測(cè)磁盤表面是否有壞區(qū)，而是直接進(jìn)行分區(qū)，從而解決了因壞區(qū)而不能檢測(cè)的問題，同時(shí)又可加快分區(qū)速度。
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