2021年初級(jí)出版資格考試?yán)碚搶?shí)物考點(diǎn)講義：第四章第二節(jié)

　　考點(diǎn)：校對(duì)的方法、工序與制度

本章練習(xí) 高頻考點(diǎn)

　　一、校對(duì)的基本方法(熟悉)，對(duì)校法的操作要點(diǎn)

　　對(duì)校法(主要用于校異同)、本校法(主要用于校是非)、他校法(主要用于校是非)、理校法(主要用于校是非)。

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　　(一)對(duì)校法

　　比照原稿核對(duì)校樣，使校樣上的文字、符號(hào)、圖、表、公式等與原稿完全相符的一種校對(duì)方法。有折校、點(diǎn)校等具體操作方式。

　　1、折校

　　一般是把原稿放在桌子上，再將一頁(yè)校樣夾在兩手的手指間壓在原稿上面(也可將校樣放在桌上而把原稿夾于手指間)，并把校樣上的字句對(duì)準(zhǔn)原稿相應(yīng)位置的字句，逐字比對(duì)。

　　優(yōu)點(diǎn)：視力集中在一個(gè)注意點(diǎn);容易發(fā)現(xiàn)多字、漏字;一目?jī)尚?加快校對(duì)速度;減少視力疲勞，保證校對(duì)質(zhì)量。

　　缺點(diǎn)：形似字容易忽略;不利于校是非;著重號(hào)、

　　專名號(hào)容易被折縫或手指遮蓋，導(dǎo)致漏校。

　　2、點(diǎn)校

　　將原稿放在校樣上方或左方，先看原稿，后看校樣，逐字逐句進(jìn)行校對(duì)。

　　點(diǎn)校在原稿文字排列方向與校樣橫豎不一的情況下必須

　　采用，在其他情況下可以選用，而對(duì)校樣進(jìn)行核紅時(shí)也要變通采用點(diǎn)校方式。

　　優(yōu)點(diǎn)：視野較寬，便于看清原稿各種修改和標(biāo)注。

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